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KOAN 恒温晶体振荡器相位噪声的形成因素主要三方面

A. 近端相噪主要是晶体 Q 值来决定。高频晶体有很高的近载波相位噪声（Close-in Phase Noise）， 因为他们有低的 Q 值和更宽的边带；

B. 中端相噪主要是晶体外围电路(包括 IC)来决定；

C. 远端相噪主要是信号输出(白噪声)来决定。

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KOAN 晶振（OCXO ）关于长期稳定性和短期稳定性的概念解释

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对长期频率稳定度这一技术指标，通常不以频率稳定度称呼，而改称为老化或者漂移，只有由噪声引起的频率不稳定性才称为频率稳定度或者短期频率稳定度，由于环境温度，供电电源电压和振荡器负载阻抗变化引起的频率变化，也不以频率稳定度相称，依次称之为频率温度特性，电源特性和负载效应。短期频率稳定度可称为相位噪声（频域）与抖动（时域），相位噪声还可细分为近端，七专晶振厂家，中端和远端相位噪声，抖动很难表征近端和中端区域，因此短期稳定度是采用频域表征。

KOAN 恒温振荡器的频率稳定度的表征方法

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频率稳定度的频域法表征是采用单边带相位噪声功率谱密度来表征，即可直接用信号中含噪声的功率谱密度来表征，几乎未掺入任何人为因素，七专晶振型号，是真实可信的；时域法表征是用双采样阿伦方差来表征，即由于噪声的影响，振荡器输出信号的频率，相位和相对频率必然存在起伏，起伏的方差可以用来描述振荡器的频率稳定度。由于阿伦方差的双采样等效于在测试系统的输入端加上一个低阻滤波器，七专晶振价格，在两次连续取样的时间内，变化缓慢的低频噪声来不及反映出来被低阻滤波器过滤，因而，采用阿伦方差表征频率源稳定度时，带有较重的人为色彩，这就是时域表征较频域表征稍有逊色之处。