KOAN 晶振（OCXO ）关于长期稳定性和短期稳定性的概念解释

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对长期频率稳定度这一技术指标，通常不以频率稳定度称呼，而改称为老化或者漂移，只有由噪声引起的频率不稳定性才称为频率稳定度或者短期频率稳定度，由于环境温度，供电电源电压和振荡器负载阻抗变化引起的频率变化，也不以频率稳定度相称，依次称之为频率温度特性，电源特性和负载效应。短期频率稳定度可称为相位噪声（频域）与抖动（时域），相位噪声还可细分为近端，中端和远端相位噪声，抖动很难表征近端和中端区域，因此短期稳定度是采用频域表征。

KOAN 温补晶振和恒温晶振的频率老化率对比

说明： TCXO 的频率老化率为： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情况，TCXO 很少采用每天频率老化率的指标，因为即使在实验室的条件下，温度变化引起的频率变化也将大大超过温度补偿晶体振荡器每天的频率老化，因此这个指标失去了实际的意义）。OCXO 的频率老化率为： ±0.5ppb～±10ppb/天（加电 72 小时后），±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

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KOAN 恒温晶振 OCXO 的负载效应概念

晶振的负载效应定义为空载输出相对频率与加额定负载后的输出相对频率之差。一般高稳晶振加电阻，电容，电感性负载后所引起的相对频率变化大约在 0.2ppb 左右，而恒温晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要设法改善负载效应，以保证负载变化时，振荡器有较高的频率准确度。而负载特性不好的一个主要原因是振荡电路的地线和电源线存在一定的阻抗。

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